仪器介绍：（性能指标、功能）

1、θ－θ模式

测量过程中X光管和探测器绕着试样转动，样品始终保持水平静止不动，适合测量液体、松散粉末、大样品、文物，以及高低温、化学反应、压力等所有样品。

2、测角仪

步进马达＋光学编码器确保测角仪快速而准确定位。非接触性的光学编码器系统，不受机械磨损的影响，确保测角仪系统长期运行而精度不减。精度高，角度重现性达±0.0001o，最小步长为0.0001o。可以随意改变测角仪圆直径，以满足高强度或高分辨率要求。

3、Sol-X固体探测器

自动过滤荧光、白光等，背景极低，具有最佳的信噪比，具有最佳的分辨率、峰形，适合各种X光源。检测强度可提高2～4倍。

仪器在材料分析中的应用：

1、晶体及相结构的分析：包括谱线指标化及晶系的测定、物相的定性和 定量分析、相变与结晶形态的研究等；

2、晶体取向分析：包括晶体定向、解理面、惯析面、晶体生长及形变的分析测定等；

3、点阵参数的精修；

4、衍射线形的分析。